溫度與光耦特性的變化
通過(guò)管理芯片和周?chē)諝庵g的熱傳遞，維持光耦特性，避免失效。
任何半導(dǎo)體設(shè)備的動(dòng)作依靠其模型溫度，這就是為什么電子參數(shù)要按照特定溫度給出。為維持光耦特性，避免失效，通過(guò)管理芯片和周?chē)諝庵g的熱傳遞限制溫度。不應(yīng)該超過(guò)設(shè)計(jì)規(guī)定的連接溫度，即使光耦也許沒(méi)有被歸入“功率器件”的種類(lèi)。這么做有以下兩個(gè)原因：
首先，全面增加光耦長(zhǎng)期可靠性，因?yàn)槿魏喂虘B(tài)設(shè)備的工作溫度都與其長(zhǎng)期可靠性成反比。因此應(yīng)該是器件工作在最低的實(shí)際工作溫度下。其次，某些參數(shù)與設(shè)備的問(wèn)題緊密相連，這些隨溫度而變得參數(shù)包括漏電流、觸發(fā)電流、CTR、驟回電壓和電阻。
進(jìn)行熱計(jì)算的三個(gè)主要方法是通過(guò)使用器件降額值、隨溫度變化功率圖或溫度模型。最簡(jiǎn)單的方法是使用熱降額值（假定用功率/度）。然而，制造商非常保守的得到這個(gè)數(shù)字，所以這個(gè)方法不能提供最精確的結(jié)果。
隨溫度變化功率圖與第一種方法非常相似，但是用簡(jiǎn)單的數(shù)字代替，依照隨溫度變化功率圖（圖1）。并且，這是一個(gè)非常保守的方法，應(yīng)該非常顧及可靠的設(shè)計(jì)，但是它也不能提供最精確的結(jié)果。
進(jìn)行熱計(jì)算更全面的方法是使用熱模型。一些光耦的熱模型已經(jīng)建立， 用于大多數(shù)簡(jiǎn)單精確的計(jì)算。
